通常環(huán)境可靠性試驗(yàn)分為以下三類:力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)、氣候環(huán)境試驗(yàn)和綜合環(huán)境試驗(yàn)。力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)主要包括機(jī)械振動(dòng)、機(jī)械沖擊、跌落、碰撞、穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)等，氣候環(huán)境試驗(yàn)主要包括溫度試驗(yàn)、溫濕度試驗(yàn)、氣壓試驗(yàn)、水試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、砂塵試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)等，綜合環(huán)境試驗(yàn)主要包括溫度氣壓綜合試驗(yàn)、溫度振動(dòng)綜合試驗(yàn)、溫度濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)、溫度氣壓濕度綜合試驗(yàn)等。

環(huán)境可靠性試驗(yàn)可以在產(chǎn)品的研發(fā)階段、試產(chǎn)階段和量產(chǎn)抽檢階段對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行驗(yàn)證，有利于企業(yè)節(jié)省研發(fā)和生產(chǎn)成本、提高產(chǎn)品質(zhì)量。

1、低溫試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫GB/T2423.1-2008, IEC60068-2-1:2007

2、高溫試驗(yàn): .
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

3、恒定濕熱試驗(yàn):
環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)GB/T2423.50-2012, IEC60068-2-67:1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)GB/T 2423.3-2006, IEC 60068-2-78: 2001

4、交變濕熱試驗(yàn):
:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán)) GB/T2423.4-2008， IEC 60068-2-30:2005

5、振動(dòng)試驗(yàn): .

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fi:振動(dòng)混合模式GB/T 2423.58-2008, IEC 60068-2-80:2005
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則GB/T 2423.56-2006, IEC 60068-2-64:1993
電 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦) GB/T 2423.10-2008, IEC 60068-2-6:1995

6、溫度變化

試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化GB/T 2423.22-2012, IEC 60068-2-14:2009

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn):

環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009

8、自由跌落試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落GB/T 2423.8-1995, IEC 60068-2-32:1990

9、機(jī)械沖擊試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊GB/T 2423.5-1995, IEC 60068-2-27:1987

10、碰撞試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞GB/T 2423.6-1995，IEC 60068-2-29:1987

11、傾跌與翻倒試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995, IEC 60068-2-31:1982

12、砂塵試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)GB/T 2423.37-2006, IEC 60068-2-68:1994

13、 鹽霧試驗(yàn):

人造氣氛腐蝕試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)GB/T 10125-2012, ISO 9227:2006

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧GB/T 2423.17-2008, 1EC60068-2-11:1981

14、 溫度沖擊:

環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化GB/T 2423.22-2012, IEC 60068-2-14:2009

15、外殼防護(hù)試驗(yàn):

外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼) GB 4208-2008，IEC 60529:2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則GB/T 2423.38-2008, IEC 60068-2-18:2000

16、 低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)GB/T 2423.35-2005, IEC 60068-2-50:1983

17、高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)GB/T 2423.36-2005, IEC 60068-2-51:1983

18、 溫度(低溫、 高溫) /低訴/振動(dòng)(隨機(jī))綜合:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、 高溫) /低訴/振動(dòng)(隨機(jī))綜合GB/T 2423.59-2008

19、 (低溫、 高溫) /低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合GB/T 2423.102-2008

20、可靠性試驗(yàn):

設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案GB/T 5080.7-1986, IEC 60605-7:1978

設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn)GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989

設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982

設(shè)備可靠性試驗(yàn)可靠性測(cè)定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)方法(指數(shù)分布) GB/T 5080.4-1985. IEC 60605-4:1978

可靠性試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)周期設(shè)計(jì)GB/T 5080.2-2012, IEC 60605-2:1994

可靠性試驗(yàn)第1部分:試驗(yàn)條件和統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)原理GB/T 5080.1-2012, IEC 60300-3-5:2001